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測(cè)厚儀 >> 測(cè)厚儀 >> 涂層測(cè)厚儀(鍍層.覆層).銅箔測(cè)厚儀
產(chǎn)品介紹  
時(shí)代之峰F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測(cè)量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260的標(biāo)配探頭。
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F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測(cè)量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260的標(biāo)配探頭。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)頭型號(hào)

F1

工作原理

磁感應(yīng)

測(cè)量范圍(um

0-1250

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[3%H+1]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[(13)%H+1]

測(cè)量條件

最小曲率半徑(mm)

1.5

基體最小面積的直徑(mm)

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.5

探頭尺寸(mm)

ф12X47

 F1
測(cè)量原理
測(cè)量范圍
測(cè)量精度
待測(cè)基體最小曲率半徑(mm)
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低限分辨力(μm)
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