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WLP-209型平均粒度測(cè)試儀根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（費(fèi)氏法）要求，在對(duì)被測(cè)粉末試樣施壓時(shí)，采用了LTDK型可設(shè)定空轉(zhuǎn)式扭矩起子，（非同其他儀器所使用無(wú)科學(xué)依據(jù)的壓力校正器）。采用LTDK型扭矩起子，可使操作人員在對(duì)粉末測(cè)試過(guò)程中均可達(dá)到相同的壓制力，精準(zhǔn)地得到同一種孔隙度，消除了人為誤差，使被測(cè)粉末粒徑更加準(zhǔn)確，同時(shí)本儀器配有雙向擴(kuò)展讀數(shù)板，孔隙度范圍由原來(lái)的0.80—0.40（擴(kuò)到0.95—0.80、擴(kuò)到0.40—0.25），滿(mǎn)足了各種粉末測(cè)試需求。
技術(shù)指標(biāo)：
1精度：±3%
2測(cè)試范圍：0.2-50μm（微米）
檔：0.2-20μm
第二檔：20-50μm
3孔隙度范圍：0.95－0.80
0.80－0.40
0.40－0.25
4準(zhǔn)確度：±3%
5環(huán)境濕度：相對(duì)濕度≤80%
6環(huán)境溫度：25±10℃
7電源：～220±22V50赫茲
8功率：25W
9重量：18kg
10外型尺寸：746×394×240mm3 |